J-platpat-“ワン・ポータル・ドシエ (OPD)照会”功能介紹

最近日本專利局針對日本專利檢索系統做了不少功能的更新,在最進一次的更新當中新增了針對日、美、歐、韓、中、WIPO的專利審查情報進行整合,未來可直接在J-platpat取得上述各大專利局審查情報,新聚能也針對這新功能做了初步的測試。

ワン・ポータル・ドシエ(OPD)照会

首先,檢索界面非常簡潔:

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可以由下拉選單選擇專利局以及欲查詢專利的申請號、公開/公告號等,以美國專利US8124801B2為例:

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輸入完成後,點選”照會”後可得到檢索結果:

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結果中會顯示家族件數,另外會將各家族的審查情報一併列出,可再點選欲進一步了解的審查文件獲得該文件的詳細內容:

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對於常被用於做為前案檢索及無效舉證參考的檢索報告書,日本的部分包含日文及英文翻譯;另外,在中國部分,也收錄中文及英文翻譯的審查意見:

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再來也可以藉由點選家族瀏覽設定欲顯示專利家族的審查請報:

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也可點選分類、引用情報獲得相關資訊,1.先勾選欲獲取情報之專利,2.點選取得資料,3.取得相關分類號(IPC, FI, F-term),4.取得引證資訊

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J-platpat做了這樣的審查情報整合,不僅可以減少審查情報檢索的時間,而且亦將每篇專利的分類號及引用文獻做整合,對於進行前案檢索時可免去不少資料整理及搜尋的時間,只是目前在檢索界面上仍以日文為主,操作上需要花時間去熟悉日文指令。